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折射率降低芯片测定仪,ATAGO折射率片测定仪, 折射率片测定仪*

型号:

更新时间:2023-09-25

简要描述:

折射率降低芯片测定仪,ATAGO折射率片测定仪, 折射率片测定仪*

详细介绍

DR-M2多波长阿贝折射仪 

折射指数或阿贝数( vd 或 ve ) 可依据 450 至 1,100nm 范围内的不同波长来衡量。
DR-M2能在液晶屏幕上数字显示折射指数与阿贝数。
藉由边界线与相交线交叉点的比对进行测量。本折射仪能与数字打印机 DP-22(B)做连结(选购)。

 

型号DR-M2货号1410
测量范围折射指数 1.3278 至 1.7379 ( 波长450nm )
折射指数 1.3000 至 1.7100 ( 波长589nm )
折射指数 1.2912 至 1.7011 ( 波长680nm )
折射指数 1.2743 至 1.6840 ( 波长1,100nm )
zui小显示单位折射指数 : 0.0001
阿贝数 : 0.1
测量准确度折射指数 : ±0.0002
( 附589nm 测试片 )
波长范围从 450 至 1100nm
( 对于681 至 1100nm的波长,则需要近红外线观察器 (可选购))
温度测量范围5 至 50°C输出终端机数字打印机 DP-22(B)
(选件)
电源AC100 至 240V 50/60Hz电力损耗160VA
尺寸重量13×29×31公分, 6.0千克 (折射仪)
15×33×11公分, 3.0千克 (光源组件)
选件• 胶卷测量用采光玻璃片 (DR-M2用) : RE-6191
• 数字打印机 DP-22(B) : 型号 3125 
• 干涉滤光

589(D)nm : RE-3520
486(F)nm : RE-3521
656(C)nm : RE-3522
546(e)nm : RE-3523 
480(F')nm : RE-3524
644(C')nm : RE-3525
(选择波长) : RE-3526

450 至 539nm
540 至 680nm
681 至 799nm
800 至 1110nm

• 近红外线透镜 : RE-9119
• 带偏光板接眼镜 : RE-1146
消耗品/零件• 刻度校正用 A : RE-1195
• DR-M2用主副菱镜 : RE-1600 
• 光源灯泡 DR-M2, M4 : RE-4170 
• 干燥剂 : RE-1592

 


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